陰極熒光(guāng)成像及光(guāng)譜探測系統
陰極熒光(guāng)成像及光(guāng)譜探測産品簡介
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産品參數
1. 陰極熒光(guāng)成像及光(guāng)譜探測系統能(néng)夠同掃描電(diàn)子顯微鏡或聚焦離子束系統配合;
2. 系統配備熒光(guāng)收集鏡及光(guāng)纖傳輸接口、信号調理采集系統、電(diàn)子束掃描發生(shēng)器(qì)、成像光(guāng)譜儀、多(duō)通(tōng)道及單通(tōng)道探測器(qì);
3. 同時可采集經信号調理采集系統獲得的熒光(guāng)強度信号;實現電(diàn)子束掃描信号與探測器(qì)數據采集的嚴格同步,獲得陰極熒光(guāng)成像、陰極熒光(guāng)光(guāng)譜面分布數據;
4. 可在納米空間分辨率下(xià)提供各類材料的陰極熒光(guāng)成像和光(guāng)譜測量,尤其适用于半導體材料研究、光(guāng)電(diàn)材料和器(qì)件(jiàn)研究研發、納米光(guāng)子學科學研究、薄膜和納米結構、地質氧化物(wù)及礦物(wù)等。
1.光(guāng)譜響應範圍:250-1100nm;
2.濾光(guāng)片輪:六檔,裝配有RGB濾光(guāng)片,軟件(jiàn)控制;
3.PMT光(guāng)譜分辨率:0.2nm(@1200g/mm光(guāng)栅);
4.電(diàn)源:220 V(±10%),50 HZ;
5.振動及電(diàn)磁環境要求:滿足電(diàn)鏡安技(jì)條件(jiàn);
6.設備參數可定制,滿足個(gè)性化定制需求